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            红外显微镜

            赛默飞世尔
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            红外显微镜

            红外显微镜概述

            红外显微镜是一种利用波长在800nm到20μm范围内的红外光作为像的形成者,用来观察某些不透明物体的显微镜。用于红外显微镜的像转换器有两种类型,另一种是“固体”类型,它是由一个光电导体层和一个电子发光层所组成,这两者被夹在可以提供交流电的两层薄透明导体层之间。相当于真?#23637;?#38451;极的电子发光层,对着光电导体层已经被红外光辐射轰击的区域发射可见光,从而形成了可见的像。
            Nicolet iN10 红外显微镜

            Nicolet iN10 红外显微镜

            品牌:美国赛默飞
            型号:Nicolet iN10
            布鲁克Lumos独立式红外显微镜

            布鲁克Lumos独立式红外显微镜

            品牌:德国布鲁克
            型号:Lumos
            岛津 红外显微镜系统 AIM-8800

            岛津 红外显微镜系统 AIM-8800

            品牌:日?#38236;?#27941;
            型号:AIM-8800
            Agilent Cary 620 FTIR 显微镜和成像系统

            Agilent Cary 620 FTIR 显微镜和成像系统

            品牌:美国安捷伦
            型号:Cary 620
            Agilent Cary 610 红外显微镜

            Agilent Cary 610 红外显微镜

            品牌:美国安捷伦
            型号:Cary 610
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            PerkinElmer Spotlight? 150i/200i 傅里叶变换红外显微镜系统

            PerkinElmer Spotlight? 150i/200i 傅里叶变换红外显微镜系统

            • 品牌: 珀金埃尔默
            • 型号: Spotlight? 150i/200i
            • 产地:美国
            • 极优的性能和简便的操作确保获得更加专业的结果。简洁明了的操作软件、优化的报告流程设计让您专心于自身的使命、推动科技的迈进:? 简便易用的智能化技术? 智能极速搜索热点区域? 多点、多组分自动测试,批量分析与报告? 自动显微ATR优化,快速获得精?#26041;?#26524;? 灵活的解决方?#31119;?#25552;供一系列可升级的配件选择典型应用举例? 食品包装、消费品、半导体等产品的化学组成分析? ?#25512;?#20999;片、毒品、纤维和爆炸品分析? 塑料?#19981;?#30740;究? 药物片剂、工艺品及纸质文件的红外光谱成像分析? 药品真伪和变异性鉴别? 新型生物材料结构检测分析? 骨质疏松症、阿尔兹海默症、癌症等涉及蛋白?#25910;?#21472;疾病的化学变化分析?

            红外热成像显微镜,

            红外热成像显微镜,

            • 品牌: 上海孚光精仪
            • 型号: Microfelles
            • 产地:德国
            • 红外热成像显微镜 Thermal Imaging Microscope这套红外显微镜专门为微电子研发和制造而设计,包括了一些非常重要的硬件,这些硬件对于分析和诊断半导体器件非常有用:探测热点和缺陷 电子元件和电路板?#25910;?#35786;断 测量结温 甄别芯片键合缺陷 测量热阻封装 确立热设计规则 电子器件和线路继续朝着微尺度方向发展,微尺度环境下的热量产生和?#35748;?#25955;成为该领域的重要课题。这套红外显微镜,热成像显微镜,红外成像显微镜能够测量半导体器件的表面温度分布并显示温度分布,提供了一种快速探测热点和热梯度的?#34892;?#25163;段,而热点和热梯度?#26448;?#26174;示出缺陷的位置,这些位置很容易导致效?#24335;?#20302;和早期的失效。红外显微镜可以?#34892;?#22320;检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。就电路的检测而言:这套热成像显微镜可以用于电路板的失效分析。我们还配备了电路板检测专用软件包?#28595;?#22411;比较”用于检测缺陷元件。而且,我们还可以配备“缺陷寻找?#27604;?#20214;模块来探测难以发现的短路问题并?#19994;?#30701;路位置。就MEMS的研发而言:空间温度分布和?#35748;?#24212;时间这两个?#38382;?#23545;于微反应器,微型热?#25442;?#22120;,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止,还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度,红外成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像,是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。这套热成像显微镜,红外热成像显微镜,红外成像显微镜包括了一些非常重要的硬件,这些硬件对于分析和诊断半导体器件非常有用。光学载物台:坚固而耐用,具有隔离振动的功能;聚焦位移台:用于相机的精密聚?#36141;?#23450;位;X-Y位移台:用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中;热控制台: 具有加热和?#35780;?#21151;能,用于精密器件的温度控制; 热成像显微镜,红外热成像显微镜,红外成像显微镜应用*红外显微镜用于半导体IC裸芯片热检测*红外成像显微镜探测集成电路的热点(hotspots)和短路?#25910;?红外显微镜探测并?#19994;?#20803;件和电路板上缺陷*红外显微镜测量半导体结点温度(结温)*热成像显微镜辨别固晶/焊线/点胶缺陷*热成像显微镜测量封装热阻 *红外显微镜确立热设计规则 *红外成像显微镜激光二极管性能和失效分析 *红外显微镜MEMS热成像分析*热成像显微镜光纤光学热成像检测*红外显微镜半导体气体传感器的热分析*热成像显微镜测量微?#25442;?#22120;的热传输效率*热成像显微镜微反应器的热成像测量*红外热成像显微镜微激励器的温度测量*热成像显微镜生物标本温度分析*红外成像显微镜材料的热性能检测*红外显微镜热流体分析 热分析软件 这套红外显微镜配套的分析软件。 这种软件能够帮助您非常容易而快速地获得温度信息,同?#20445;?#23427;可以产生实时的(real time)带状图、拍摄并回放图像序列以及在图像上选择任何大小形状的区域,从而为您提供不同视角和建设性的数据分析手段。中国领先的进口红外热成像系统旗舰型服务商--孚光精仪!

            Nicolet iN10 红外显微镜

            Nicolet iN10 红外显微镜

            • 品牌: 赛默飞世尔
            • 型号: Nicolet iN10
            • 产地:美国
            • 仪器简介:2008 Pittcon 隆重推出的Thermo Scientific Nicolet iN10傅立叶变换显微红外光谱仪以全新的集成化设计理念,高效的光学系统和智能的操作方法, 为不同应用领域提供了更高性能方便快捷的显微红外检测分析技术。Thermo Scientific Nicolet iN10 傅立叶变换显微红外光谱仪采用独特高效的一体化光学设计不仅简化显微红外分析操作,且性能更加卓越。 Nicolet iN10显微红外光谱仪OMNIC Picta 能软件的“向导”技术,能帮助没有显微红外光谱仪使用经验的操作者迅速?#34892;?#30340;采集样品微区的光?#36164;?#25454;,同时得到完整的解决方案。一架显微镜,一台光谱仪完全一体化这是第一次,在红外显微镜内拥有一台完整的FT-IR光谱仪。NicoletiN10不仅节省了时间,金钱和空间,其一体化设计为高性能红外显微镜提供了显著提高的光学效率。 *智能化的机器使您无需学习新仪器操作 *分析样品,立即可见 *低温冷却系统可测量小至10微米的样品 *Micro-ATR超越?#25628;?#23556;极限小至3微米 OMNICPicta软件 即使您认为您不具备操作一台红外显微镜的技能,智能化的OMNICPicta软件帮助您轻松装载材料和定位分析区域。OMNICPicta可在分析全过程中帮助您,无需您耗时猜测。或者选择“向导”设计帮助您一步步分析特定的材料,如颗粒,层状或者随机混合物样品。 OMNICPicta是第一个能全过程逐步帮助您的红外显微镜任务式界面 解决最具挑战性的应用 NicoletiN10显微镜是日常分析的理想选择,适用领域:高分子,橡?#28023;?#21253;?#22467;推幔?#28034;层,化合物,微电子,制药,水泥,化妆品,纺织品,颜料,?#20132;?#24037;,墨水,粘合剂等等。 纯化合物的辨别 OMNICPicta提供了每一步你所需的工具。使用一个自解压向导文件在数秒内建立预览图像;然后只需在化合物名称?#31995;?#20987;,就可知道其分布的百分比以及分布地点。如果为未知材料,您可在其名称上立即进行搜索! 颗粒和纤维分析 OMNICPicta为您提供便捷的用户界面,并为您快速轻松的获取数据设置好一?#23567;?#39063;粒向导能为您更加快速的完成任务!寻?#24050;?#21697;特征,调至最佳光圈,收集光谱图,然后在您选中的图库中进行搜索。最终结果?特征数目,识别结果和每一材料的相对百分数。OMNICPicta提供的是答?#31119;?#32780;不仅仅是好的数据。 层状样品?#36879;?#20998;子膜 ?#25512;?#30862;片和食品包装的截面分析是红外显微镜的经典应用。OMNICPicta帮助您轻松驱动NicoletiN10快速获取传统的“瀑布式”图像。创新在何处?自解压向导文件可辨别每一层材料以及每层厚度。另一个向导文件帮助您知道内含物,凝胶和空?#21019;?#30340;成分,仅当需要时将样品分层或内含物的“提取外科手术”最小化。同时在2008 Pittcon 隆重推出的还?#34892;?#22411;的Thermo Scientific Nicolet iN10MX 成像显微镜, 它包括成像的光学元件和阵列检测器,保证仪器简便快速地获?#37238;?#20445;真的化学成像;Thermo Scientific Nicolet iS10 型傅立叶变换红外光谱仪,该产品由新版 OMNIC Specta软件支持。这种易用的系统简化了传统的光谱仪,使得分析和研究型化学实验室的化学家能够充分利用该技术的力量,从而得到更具自?#21028;?#30340;实验结果;Thermo Scientific DXR SmartRaman型拉曼光谱仪,这是第一款专为满足质控(Quality Control,QC)实验室的需求和环境而设计的拉曼光谱仪,DXR SmartRaman型光谱仪将首次让质控实验室领略拉曼光谱技术的威力;Thermo Scientific DXR激光共聚焦拉曼光谱仪,该仪器专为帮助非专?#31561;?#21592;对小到1微米的颗粒进行快速采样和分析而度身打造,这?#20013;?#39062;的显微镜集卓越的空间分辨率, 出众的性能和无与伦比的高重?#20013;?#20110;一体,并且人人均能使用。技术?#38382;?#20026;目标建立的傅立叶红外(FT-IR)显微镜将红外显微镜带入了日常实验室 新的Nicolet iN 10 红外显微镜可满足如下客户的需求:当用户难以掌握此项技术或者觉得成本过高。 *新颖的用户界面为您管理显微镜 *向导软件一步步教您学会不熟悉的过程 *高性能显微镜,无需液氮 *材料科学主要特点:● 高效优化光程设计,配置DTGS检测器,无需液氮即可安全方便的检测样品,?#34892;?#38477;低使用成本 ● 显微光谱仪独立使用,无需联机方式,?#34892;?#25552;升操作的方便性和维护的简易性 ● 为各种显微技术应用设计的智能化“向导”功能,采用全新的显微测试理念使操作者简单易行的实施检测分析的全过程,正确得到样品光谱的化学物理分布信息 ● Nicolet iN10显微红外光谱仪的可升级设计,适应高分辨率、快速检测和图像分析等各种应用需求 ● 连接 Nicolet iZ10 FT-IR辅助光学台可全面满足红外光谱检测的各?#20013;?#27714;Nicolet iN10显微红外光谱仪高度自动化集成技术提供自动照明、软件虚拟操纵杆控制的自动平台、自动聚焦定位、自动光阑、自动背?#23433;?#38598;定位 等,以及先进的视频捕获技术和双屏显示设置,简化操作,使操作者能专注于检测分析任务。可完美适用于: *分析服务 *质量控制 *法庭科学

            布鲁克 Hyperion 3000

            布鲁克 Hyperion 3000

            • 品牌: 德国布鲁克
            • 型号: hyperion
            • 产地:德国
            • 在傅立叶变换红外显微镜和化学成像仪的大家庭中,HYPERION代表着最高灵敏度和最高空间分辨率。它的设计完美地结合了高清晰度可见光观察?#36879;?#24615;能红外光谱分析,可以分析各种样品。HYPERION系列显微镜集布鲁克公司25年红外显微镜研发、生产经验之大成,以其在光学元器件、机?#23548;?#24037;和电子电路等方面的高质?#21487;?#35745;成就了无以伦比的高稳定性和可靠性。HYPERION模块化的设计可按您的需求进行定制,以满足各种有挑战性的R&D研究工作。其应用领域非常广?#28023;?#35206;盖了材料科学研究、聚合物、化工产品、法庭刑侦、艺术品保护和生命科学等。HYPERION显微镜拥有各种对比照明增强的手段、各种专用的红外镜头及化学成像功能,可以使用户轻松、高效地完成各种高灵敏度的显微分析。最高的空间分辨率,仅受限于光学衍射极限最高的灵敏度,即使采用?#32454;?#30340;空间分辨率测?#20811;?#20943;全反射(ATR)镜头,内置压力传感器,高精度?#26696;?#31283;定性的机械装置用于精准定位晶体位置专用的掠角(GAO)镜头,双反射光?#39134;?#35745;,用于分析金属表面的超薄膜全自动的FT-IR面扫描功能,适用于各种测量模式高度集成化的光谱软件用于数据的采集、分析及归档FT-IR成像功能采取最先进的焦平面阵列(FPA)检测器技术样品可见光观察使用红外显微镜对任何何样品进行红外分析之?#22467;?#38656;要?#28909;范?#26679;品上您?#34892;?#36259;的区域。但是,很多显微样品在可见光观察模式下对比度不强,因此,为样品特征区的选定增加了?#35759;取YPERION系列显微镜拥有多种先进技术用于增强样品在透射和反射模式下可见光的对比度。为了获取某一类样品的最优化可视图像,HYPERION装配了一个镜头架和一系列镜头。通常情况下,首先使用对比虹膜技术(柯勒式孔径)来增强样品的观察,此外,可以使用旋转的偏振片在透射和反射模式下对双折射样品进行区分?#27426;?#20110;散射较强的样品,可以使用暗场照明?#27426;?#20110;含有荧光物质或者荧光标记的样品,HYPERION?#37096;?#20197;选择装配荧光照明附件。自动聚?#26500;?#33021;用于观察层状样品的表面。观察系统样品的CCD图像不仅可以在计算机的OPUS软件上显示,?#37096;?#20197;显示在显微镜前面板的LCD上(HYPERION2000/3000)。该LCD显示屏使得定位样品和识别待测位变得更加方便。所有的可见光图像将与测?#31185;?#22270;、以?#20843;?#20204;的采样位置一起被保存在一个文件中。HYPERION标准配置一个双?#26448;?#38236;,可以提供更高质量的可见光图像。因此,即使样品具有较弱的可见对比图像,您依然可以轻松地?#19994;?#24453;测区域。采样灵活性通常情况下,对于FT-IR显微镜的透射分析实验,样品需要被切割成5-15微米厚的薄片。如果样品沉积在高反射率的基底上,可以采用反射模式测量。但是,有很多样品既不透明,反射率又不高,这些样品需要采用衰减全反射(ATR)模式测量。正因如此,ATR镜头的质量和通用性对大多数应用是至关重要的。反射表面的超薄层,甚至是单分子薄膜,可以通过掠角反射镜头(GAO)来获取红外信息。光谱范围HYPERION的光谱范围可以从中红外扩展到近红外(NIR),甚至到可见谱区(VIS,达到25,000cm-1),?#37096;?#20197;扩展到远红外波段(FIR,大约80cm-1)。为了覆盖最宽的光谱范围,用户可以选择不同的检测器并可由用户自行更换。HYPERION可以同时安装两个检测器,这两个检测器的相互切换可通过软件操作完成。样品台HYPERION 1000配置手动xy样品台;HYPERION2000和3000配置高精?#32423;?#30340;自动xy样品台。此外,用户可以选配其他样品台,如可更换的、可旋转的、可变温的(-196 到600 °C)、可控湿度的、可做发射实验的样品台等。共聚焦设计HYPERION的设计理念旨在实现在最高空间分辨率下仍能具有最高的灵敏度。红外光的光路为共聚焦设计,无论是透射还是反射模式,孔径光阑均?#27426;?#31435;安装在样品前和样品后的等距平面上。HYPERION红外显微镜的空间分辨?#24335;?#21463;限于入射光的物理衍射极限。HYPERION的标准配置是一个透明的刀口光阑,用户可以选择金属刀口光阑、虹膜光阑及光阑转轮以及软件控制的全自动刀口光阑。所有的光阑可被轻?#21830;?#25442;。化学成像HYPERION 3000显微镜集红外成像功能和单点测量功能于一身。该系统包括最先进的焦平面阵列(FPA)检测器技术,该技术可以实?#32622;?#31186;钟?#30422;д牌?#22270;的同时采集。即使对于更大的采样区域,它依然能够快速地以最高的空间分辨率来进行数据采集。仅需?#35813;?#38047;,用户即可以得到高分辨率的化学成像。它最快的扫描速度为每秒钟可同时采集16,384?#29260;?#22270;,形成一个340μm x 340 μm的化学图像。更大面积的区域可以通过红外成像与红外扫描相结合来实现。HYPERION3000 所有的镜?#33539;?#20855;有极高像素分辨率,其分辨能力仅受限于光的衍射极限。大面积的图像处理功能均可通过OPUS软件来实现。

            布鲁克Lumos独立式红外显微镜

            布鲁克Lumos独立式红外显微镜

            • 品牌: 德国布鲁克
            • 型号: Lumos
            • 产地:德国
            • LUMOS: 高清晰图像LUMOS是一款全自动的独立式红外显微镜,它完美地结合了高清晰度可见光观察、高性能红外谱图测量及智能化操作等特点。由于采用高精度马达和智能通?#26029;?#32479;,LUMOS具有杰出的自动化性能。直观的向导软件会引导用户逐步进行数据的采集和处理。LUMOS的ATR晶体采用自动化控制,因此所有的透射、反射和ATR模式的测量,都可以自动完成。LUMOS不仅适合常规的测试,它的高灵敏度也使其在更高要求的研发应用领域?#22411;?#26679;出色的表现。独立式、全自动傅立叶变换红外显微镜舒?#30465;?#31616;单的操作自动化ATR物镜充裕的样品操作空间红外测试与可见光成像的性能俱佳LUMOS: 高度智能化简单易用的全自动红外显微镜LUMOS是一款独立的红外显微镜。它体积虽小,但却整合了传统傅立叶变换红外光谱仪所需的所有光学系统。LUMOS红外显微镜是按照高性能且简单易用的全新理念设计研发,所有部件都实现了自动化控制并配以电子编码,确保实现全自动化、高智能操作流程。革命性的创新设计是采用自动化控制ATR晶体,?#33945;?#35745;确保了用户无需任?#38382;?#21160;操作便可实?#25191;?#36879;射到反射到ATR模式的切换,或是ATR模式下背景和样品的自动转换和测量。LUMOS 的智能化包括:自动控制ATR晶体自动控制透明刀口光阑 自动控制聚焦镜 自动控制可见光起偏器和检偏器 自动控制样品台自动控制Z方向驱动自动控制红外测试模式和可见观察模式的切换自动控制红外测试模式和可见观察模式的数值孔径电子识别样品台通过这些高度自动化的部件和电子识别设计,LUMOS的专?#31561;?#20214;会引导用户完成整个测试流程,?#34892;?#22320;避免了可能的错误操作。LUMOS主机上无任何按键,所有的功能都是由软件控制完成。用户界面会在每个实验步骤之后显示下一步可选的操作,引导用户继续试验。LUMOS包括一个智能物镜,该物镜可用于透射、反射及ATR模式下的可见光观察和红外测量。在透射与反射模式下,ATR晶体隐藏在物镜里;在ATR模式下,ATR晶体则自动置于红外光?#26041;?#28857;处,进行背景数据的采集。同?#20445;珹TR镜头内置的压力控制单元可以确保ATR晶体对样品的压力保持恒定,这对于面扫描与红外成像测量是必不可少的。压力控制单元设有三种不同级别,通过软件进行选择,适?#32454;?#31181;硬度的样品,确保测量结果最佳化。保证晶体与样品的紧密接触又不损坏ATR晶体。由于ATR晶体使用的是高折射率(n=4)的锗,所以即使是颜色很深的样品?#26448;?#29992;于ATR模式测量。LUMOS提供了充裕的样品空间和最大的工作距离,可以容纳各种尺寸的样品;宽敞的样品台,使用户能够很方便地放置?#36879;?#25442;样品,操作更加舒?#30465;?#26679;品定位LUMOS物镜的最大工作距离为30mm。在不调整任何硬件的情况下,用户可将至多40mm厚的样品放在样品台上进行观测。?#25945;?#30340;自动化样品台,以及物镜与样品台的超大间距,使样品放置起来非常便捷。另外,样品台上还清楚的标记出了显微镜可观测到的区域。样品台LUMOS可以配置手动样品台和自动样品台。如果样品需要进行不同点的测试,或进行化学成像测试,则需要配置自动样品台。样品台的移动距离大(75 x 50 mm),调节精度高(0.1 μm),可以适合大样品、高空间分辨率的测试。LUMOS样品台可以通过操作杆或者计算机自动控制。样品台中心的样品架提供了用于透射模式和反射模式下自动背?#23433;?#35797;的标?#30142;?#32771;位,同时也为LUMOS内部的光学自动校准提供参比。LUMOS可配置各?#27490;?#26684;的样品台,用于特定样品的定位;同时?#37096;?#20860;容变温附件、变压附件。舒?#35782;?#19982;易用性LUMOS是一款高度集成的独立式红外显微镜。 它的尺寸为(长30X高64X宽1300px)比传统的红外显微镜小巧很多。LUMOS的智能物镜,可以用于透射、反射和ATR测试。在高数值孔?#26029;攏?#21487;以达到1.5 x 1.2 mm的视场(FOV)。LUMOS的光学系统和此物镜的优化匹配,保证了高质量的图像。为了满足可见光成像模式下更大的景深和红外模式下更高的灵敏度,LUMOS会在切换这两个模式时自动调节数值孔径,达到最佳的效果。LUMOS配有两个独立可调的、高亮度、高均一性的LED光源,用于透射和反射模式下的可见光照明。为了提高图像的对比度,LUMOS使用了“柯勒式孔径”技术。物镜的放大倍数最高可达32倍,用于样品细微结构的观测。所有的可见光图像均由快速、高分辨率的数字CCD进行采集。计算机自动控制的起偏器和检偏器用于观察双折射率的样品。独立式红外显微镜直观的软件引导用户完成红外显微镜的测试过程。左侧窗口中的功能条显示下步可选的操作,中心窗口显示相机采集的实时样品图像,右边窗口显示已采集的可见光图像。样品测试点可以是连续的点、线、面或者是不连续的点(可在实时图像上显示)。用户可在任何?#34892;?#36259;的位置进行标记和注释。工作流程与软件LUMOS是由OPUS红外软件控制,简单易用,功能强大。诸如数据采集、数据处理、数据评估和数据报告等功能都可以在OPUS?#22411;?#25104;。OPUS-Video会指导用户一步一步完成数据采集过程。通过用户界面,使用者可以进行可见光区的观察,设置样品测试点、空间分辨率和采集时间,?#33539;?#27979;试模式,最后开始自动测试。OPUS-Video每次仅显示下一步可能使用的功能,保证了测试流程的简单性?#36879;?#25928;性。LUMOS所有的部件均由计算机自动控制,无论是透射、反射还是ATR模式,都可自动完成背?#23433;?#35797;和样品测试。所有的测试结果会自动保存在一个文件中,该文件包括可见光图像、光?#36164;?#25454;、样品信息和实验?#38382;?#31561;。用户可以在OPUS 软件中调入这些文件进行处理。面扫描和化学成像数据?#37096;?#20197;很容易的在OPUS软件中用单变量和多变量方法?#21491;?#22788;理和评估。用户可将红外化学成像和可见光的2D/3D图像排列在一起进行对比和分析。红外数据可以采用多?#22336;?#27861;进行处理,如积分特定波段、3D聚类分析、主成?#22336;?#26512;(PCA)等,?#33539;?#21270;学组成或研究样品表面的分布均匀性。在面扫描或者成像数据的红外谱图上直接点击右键,用户可以进行谱库检索,以?#33539;?#25152;关心的未知化合物的化学结构。OPUS可以提供不同种类物质的光?#36164;?#25454;库,以便轻松地鉴定未知样品。OPUS所有谱图和图像可以以多种格式导出,不会损害数据的完整性。强大的核心技术高性能干涉仪LUMOS是一款独立式傅立叶变换红外显微光谱仪,该谱仪的核心部分采用布鲁克公司独家专利设计、?#29976;?#36190;誉的永?#31859;?#30452;RockSolid的干涉仪。它的三维立体角镜,全镀金面镜,和永远位于质心处的无磨损轴?#26657;?#20351;其具备了寿命长,灵敏度高,抗振能力强的特点。RockSolid干涉仪利用了“三维立体角镜中的入射光和反射光永远平行”的光学原理,实现了干涉光路的永?#31859;賈保?#22240;此LUMOS不受镜面倾?#34180;?#25391;动和热效应的影响,具有极强的稳定性,用户无需进行任何调整。漆片表面的ATR面扫描光谱图(分辨率为100px ,采集时间为16秒/点)。光阑大小根据不同层的可见光图像特征设定。右上角的视图显示了不同区域的测试点(红色矩形框为光阑尺寸),被选定的位置用实?#33041;?#28857;进行标识,并且在下面的窗口中显示其对应的红外光谱。左上角的3D柱形图显示了不同测量点上的羰基吸收峰强度,表明红色的涂层中该成分含量高。这种定量分析是通过对光谱图中标定的峰位区域做积?#25191;?#29702;后获得的。通过OPUS软件的图像输出功能,即可得到上图中显?#38236;?D数据图像。不仅限于微区分析三维立体角镜不受镜面倾斜的影响,入射光与反射光达到绝对平行。这是布鲁克光谱仪器公司RockSolid干涉仪永?#31859;?#30452;的基本原理。大尺寸样品采样尽管LUMOS是一款独立式红外显微镜,但它的测量对象并不仅限于微小样品。用户只要将MACRO UNIT单元与LUMOS左边的接口相连就可以进行较大尺寸样品的测量。同?#20445;珹lpha型红外光谱仪上的所有QuickSnap智能模块都适用于MACRO UNIT单元。因此可以分析固体、液体和气体样品。只要轻触按键,就可以轻松更换各种采样模块。所有的QuickSnap模块?#21152;?#26377;电子识别编码。当模块插入MACRO UNIT单元后,仪器就会自动识别该模块,并根据模块的类型调入正确的测量?#38382;?#25805;作者只需要将样品放入模块,就可以开始测量样品。LUMOS不仅能分析微小样品,还能通过MACRO UNIT单元分析大尺寸样品。MACRO UNIT单元与LUMOS的左边相连,用户可以选择不同的QuickSnap模块进行测量。适用于ALPHA和LUMOS的各类红外采样模块(透射、ATR、镜反射与漫反射附件)。性能?#29616;?#22914;今,许多实验?#21494;?#24517;须符?#32454;髦止?#29702;机构的?#29616;ぁ?#24067;鲁克光谱仪器公司为用户提供了全面的系统?#29616;ぁ4由?#35745;?#29616;ぃ―Q)到操作?#29616;ぃ∣Q)以及日常性能?#29616;ぃ≒Q),LUMOS支持各种?#29616;?#35201;求。布鲁克光谱仪器公?#38236;娜现?#31995;统还提供相关的文件,并引导完成?#29616;?#36807;程中所有必需的步骤。布鲁克公司专业的工程师将为您提供?#29616;ぁ?#20202;器安装和年度检验等服务。OPUS?#29616;?#31243;序(OVP)用于帮助制药企业和其他需要遵守GMP/GLP/cGMP等协议的相关公司,提供综合全面的OQ及PQ?#29616;?#26381;务。如果LUMOS红外显微镜安装了自动样品台,那么对自动样品台的精?#33539;取Q和PQ的测试都是自动进行的。LUMOS的OVP还支持更高阶的?#29616;づ访?#33647;典?#29616;?.2.24和日本药典?#29616;?.25。LUMOS包含了等效于NIST SRM1921b?#29616;?#30340;Bruker BRM 1921 MIR内置校准单元,所有例行程序的测试报告会自动生成与存档。使用者可以通过OPUS软件中的状态灯了解仪器当前的使用情况。当LUMOS的任何一个部件与规范不符,或是OQ或PQ测试过期,使用者马上会得到信息提示。OVP同样支持21 CFR part 11规范中处理数据安全、数据可追溯性与数据真实性的所有要求。用户?#37096;?#20197;根据需要,对仪器?#29616;?#25552;供延保和延长服务。透射模式、空间分辨率为15μm下测量到的洋葱组织。在可见光图像上面的红外化学成像中,清晰地显示了细胞内的蛋白质含量。性价比高、使用周期长傅立叶变换红外光谱技术可以用于鉴定任何材料的化学成份,已经非常成熟。在仪器的使用寿命期间,通常不需要更换耗材或昂贵的部件。LUMOS采用寿命长达10年以上二极管激光器,红外光源的寿命也达到了5年以上。其核心部分,?#20174;讕米?#30452;的RockSolid干涉仪,寿命也在10年以上。LUMOS内部所有的光学窗口材料及分束器均由ZnSe材?#25163;?#25104;。ZnSe具有良好的防潮性,即使在高湿度的环境中,依然能正常使用。与传统红外显微镜不同,LUMOS不需要用干燥空气进行吹扫,其主光路部分完全密封,并且通过干燥剂实时进行干燥处理,从而将水蒸气和二氧化碳的干扰降到最小。干燥剂在仪器使用寿命期内是可以重复再生的。用户可以方便地对干燥剂进行再生?#36879;?#25442;。LUMOS标配的液氮冷却高性能MCT检测器,提高了空间分辨率及检测的灵敏度,缩短了数据采集时间。检测器对液氮的消耗很少,一个工作日仅消耗300ml。如果用户没有液氮,我们?#37096;?#20197;在LUMOS上安装DTGS检测器,虽然灵敏度略低,但稳定耐用,是一个经济型的选择。LUMOS设计紧凑,体积小巧(长30x宽1300px),节?#21058;?#23453;贵的实验室空间。通过采用二极管激光器、高能效的红外光源、LED灯和?#25191;?#30005;子技术,成就了LUMOS极低的能耗,节能环保。

            红外显微镜

            红外显微镜

            • 品牌: 上海孚光精仪
            • 型号: IRmicon
            • 产地:美国
            • 红外热成像显微镜 红外成像显微镜,红外热成像显微镜Thermal Imaging Microscope这套红外显微镜专门为微电子研发和制造而设计,包括了一些非常重要的硬件,这些硬件对于分析和诊断半导体器件非常有用:探测热点和缺陷 电子元件和电路板?#25910;?#35786;断 测量结温 甄别芯片键合缺陷 测量热阻封装 确立热设计规则 电子器件和线路继续朝着微尺度方向发展,微尺度环境下的热量产生和?#35748;?#25955;成为该领域的重要课题。这套红外显微镜,热成像显微镜,红外成像显微镜能够测量半导体器件的表面温度分布并显示温度分布,提供了一种快速探测热点和热梯度的?#34892;?#25163;段,而热点和热梯度?#26448;?#26174;示出缺陷的位置,这些位置很容易导致效?#24335;?#20302;和早期的失效。中国领先的进口红外热成像系统旗舰型服务商--孚光精仪!红外成像显微镜,红外热成像显微镜可以?#34892;?#22320;检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。就电路的检测而言:这套红外成像显微镜,红外热成像显微镜可以用于电路板的失效分析。我们还配备了电路板检测专用软件包?#28595;?#22411;比较”用于检测缺陷元件。而且,我们还可以配备“缺陷寻找?#27604;?#20214;模块来探测难以发现的短路问题并?#19994;?#30701;路位置。就MEMS的研发而言:空间温度分布和?#35748;?#24212;时间这两个?#38382;?#23545;于微反应器,微型热?#25442;?#22120;,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止,还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度,红外成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像,是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。这套红外成像显微镜,红外热成像显微镜包括了一些非常重要的硬件,这些硬件对于分析和诊断半导体器件非常有用。光学载物台:坚固而耐用,具有隔离振动的功能;聚焦位移台:用于相机的精密聚?#36141;?#23450;位;X-Y位移台:用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中;热控制台: 具有加热和?#35780;?#21151;能,用于精密器件的温度控制; 红外成像显微镜,红外热成像显微镜应用*用于半导体IC裸芯片热检测*探测集成电路的热点(hotspots)和短路?#25910;?探测并?#19994;?#20803;件和电路板上缺陷*测量半导体结点温度(结温)*辨别固晶/焊线/点胶缺陷*测量封装热阻 *确立热设计规则 *激光二极管性能和失效分析 *MEMS热成像分析*光纤光学热成像检测*半导体气体传感器的热分析*镜测量微?#25442;?#22120;的热传输效率*热成像显微镜微反应器的热成像测量*红外热成像显微镜微激励器的温度测量*热成像显微镜生物标本温度分析*红外成像显微镜材料的热性能检测*红外显微镜热流体分析 热分析软件 这套红外成像显微镜,红外热成像显微镜配套的分析软件。 这种软件能够帮助您非常容易而快速地获得温度信息,同?#20445;?#23427;可以产生实时的(real time)带状图、拍摄并回放图像序列以及在图像上选择任何大小形状的区域,从而为您提供不同视角和建设性的数据分析手段。中国领先的进口红外热成像系统旗舰型服务商--孚光精仪!

            布鲁克Inspire红外原子力显微镜

            布鲁克Inspire红外原子力显微镜

            • 品牌: 德国布鲁克
            • 型号: Inspire
            • 产地:美国
            • 最高分辨率的纳米级化学和性质成像Bruker’s Inspire系统在常规AFM成像速度下可获得纳米级的红外吸收和反射图像,不受间接?#27490;?#25805;作的?#24179;?#30340;限制,或为用户增加使用的繁琐。该系统实时地将原子级的纳米力学成像与分辨率达10纳米的红外sSNOM 时空光谱成像以及独一无二的纳米电学测量相关联。简而言之,Inspire重新定义了原子力显微镜的应用。Inspire 的出现,第一次将最高分辨率纳米尺度下的化学和性质成像与最先进的AFM技术和无与伦比的AFM性能结合:采用直接光学?#24179;?#26041;法获得最高分辨率的纳米化学性质表征和等离子基元效应布鲁克公司独有的PeakForce Tapping技术可提供最为精准的定量纳米机械性质的成像全新的PeakForce IR技术可以实现以往技术难以实现的纳米化学性质的成像利用ScanAsyst自动优化图像和集成的sSNOM光学系统可快速的获得数据卓越的成像技术操作简单Inspire 使用sSNOM直接光学的反射和吸收成像以获得最高的空间分辨率和灵敏度的纳米化学信息。以往需多年的专业技术和数周的搭建时间获得的实验数据,Inspire的集成光学系统可以更快更简单的实现。PeakForce Tapping(峰值力轻敲)技术及智能成像模式保证了即使是初学者?#37096;?#20197;在几分钟之内获得专家级的AFM成像质量。PeakForce Tapping技术的强力支撑布鲁克公司独有的PeakForce Tapping技术采用精确地控制每个像素下的力曲线,能够降低成像时的作用力,这样可以保护探针,同时最高分辨率的形貌图和纳米尺度性质的AFM图像。Inspire利用了布鲁克独有的PeakForce Tapping技术为红外散射近场光学显微镜(sSNOM),提供了全新的方法,扩展了它在大量样品的纳米尺度的化学成像。PeakForce IR技术是一种通过交错sSNOM信号采集和PeakForce Tapping的反馈,在同一时间获得全部的组合信息的全?#24405;?#26415;。新材料的化学成像PeakForce IR技术超越了传统的AFM,sSONM,或光热方法下实现的纳米级成像的范围。Inspire 还可以鉴定材料类型,以及检测灵敏度达单分子层级的膜厚变化。红外纳米表征技术可以扩展至:粉末?#36879;?#20998;子刷等接触模式和轻敲模式都很难成功测量的样品橡胶体的成分,金属材料,半导体材料,陶瓷和其他在光热方法下不能测量的材料石墨烯等离子体,电子结?#36141;?#21270;学修饰的样品为新的发?#31181;?#25509;提供相关联的信息拥有PeakForce IR技术的Inspire通过具有所有优势的散射sSNOM技术提供的扫描探针的红外反射和吸收成像,使获得化学、材料和等离子基元的最高空间分辨率的成像成为可能。该技术还可以与PeakForce QNM联用实时的进行定量纳米机?#30340;?#37327;和粘附力的成像。与PeakForce IR的联用,PeakForce KPFM 实现了在10nm分辨率水平下的毫伏级的定量的功函数成像,PeakForce TUNA实现了即使在柔软和易碎样品上无法在接触模式下获得的导电图像。生产力的新标准PeakForce IR利用布鲁克独有的智能成像模式专利技术,通过自动成像优化,能够更简单、更快速获得一致的AFM图像。结合带有由光学场?#23478;?#23548;的point-and-click光学校准的快速光?#39134;?#32622;集成光学系统,使得实验准?#29976;?#38388;减少到几分钟。高性能的AFM扫描器确保可以在扫描速率达10Hz时?#19981;竦酶?#20998;辨率的红外成像。对于任何对散射sSNOM技术、纳米级石墨烯研究?#34892;?#36259;的科学家,或者需要得到高分辨化学性质成像的研究者来说,拥有PeakForce IR技术的Inspire是您最理想的选择。技术?#38382;?#20809;路系统 集成红外散射SNOM系统: 包含必需的光学器件, 激光和检测器; 高质量的宽频光学元件; 低噪音, 液氮冷却的探测器; 精确的干涉仪控制系统; 低噪声量子级联激光器光源; 优化的近场采集和激发光路AFM扫描头 可支持应用模块的AFM扫描头(可支持所有选择模式)扫描器 125μm x 125μm (X-Y) x 5μm( Z range); 可以根据需求选择其他扫描器控制器 NanoScopeV 控制台, 配v9.0 Nanoscope实时控制软件; NanoScope v1.5 分析软件; Windows 7 操作系统模式扫描探针红外模式: IR sSNOM 在 TappingMode and PeakForce IR模式下运行常规成像模式: 智能成像模式 峰值力轻敲模式 轻敲模式 接触模式 扭转共振模式 扫描隧道显微镜 摩擦力显微镜 相位成像可选择的材料表征模式: PeakForce KPFM纳米级热分析 导电原子力显微镜液态成像 PeakForce TUNA电化学原子力显微镜 PeakForce QNM纳米?#36141;?PeakForce Capture压电力显微镜 力曲线阵列 电场力和磁力显微镜

            Agilent Cary 620 FTIR 显微镜和成像系统

            Agilent Cary 620 FTIR 显微镜和成像系统

            • 品牌:
            • 型号: Cary 620
            • 产地:澳大利亚
            • Agilent Cary 610 和 Cary 620 FTIR 显微镜与化学成像系统代表了最新的顶尖级性能。借助最新的技术进展,该系统现可提供无与伦比的空间分辨率和灵敏度,并且可与多种选件联用,提供更高的灵活性以适应从常规测量到最前沿的分析方法开发等各种应用。Cary 610 是一款能?#25442;?#22270;的单点式 FTIR 显微镜,而 Cary 620 是一款焦平面阵列 (FPA) 化学成像 FTIR 显微镜。通过将显微镜与研究级 Cary 660 FTIR 或顶级的空气轴承 Cary 670 FTIR 光谱仪联用,可获得一体式的两种仪器研究型 FTIR 光谱仪和 FTIR 显微镜。Cary 610 显微镜日后可升级为 Cary 620,以便灵活应对应用需求的变化。产品特性:● 采用安捷伦创新的高倍光学系统实现与同步加速器相媲美的空间分辨率和数据质量。● Agilent 600 系列仪器具有高出任何其他 FTIR 系统 400% 的能量,为您提供可能前所未见的详细信息,确保获得极高质量的数据。● 独特的 4x IR 物镜可确保快速轻松地检测较大区域内的小特征,无需移动样品,所有操作均在数分钟内完成。● 利用安捷伦独特的“实况 ATR 成像模式”在数分钟内即可测量娇嫩的样品,无需采用耗时的样品?#25353;?#29702;技术(例如树脂包埋)。● 材料应用包括聚合物、涂层和薄膜的缺陷分析。● 检测组织和细胞中细微的化学变化(无需染色),有助于?#32435;?#30142;病检测过程并更早地发现疾病。● 测?#20811;?#20013;的活细胞。● 鉴定半导体晶片和电子元件中的缺陷。● Resolutions Pro FTIR 软件

            Agilent Cary 610 红外显微镜

            Agilent Cary 610 红外显微镜

            • 品牌:
            • 型号: Cary 610
            • 产地:澳大利亚
            • Cary 610 是一款能?#25442;?#22270;的单点式 FTIR 显微镜,而 Cary 620 是一款焦平面阵列 (FPA) 化学成像 FTIR 显微镜。通过将显微镜与研究级 Cary 660 FTIR 或顶级的空气轴承 Cary 670 FTIR 光谱仪联用,可获得一体式的两种仪器研究型 FTIR 光谱仪与 FTIR 显微镜。Cary 610 日后可升级为 Cary 620,以便灵活应对应用需求的变化。产品特性:● 在高光学和空间分辨率下拥有极高的成像灵敏度。● 有多种测量模式可选,包括透射、反射、衰减全反射 (ATR) 和掠角反射。● 品质?#21028;?#30340;成像附件,如掠角反射附件和 Slide-on ATR 附件。● 已获专利的“View-Thru”检测孔方便操作者观察肉眼可见的样品并快速选择测量的关注区域。● 通过多功能、直观的软件环境进行控制,?#37238;?#31181;水平的用户都能轻松地完成 FTIR 显微操作。● 在测量的任何阶段都能够自由访问原始数据。这可以对红外图像进行高效的处理和生成,无需重新收集数据,节?#21058;?#23453;贵的时间和资金。● 该系统可以轻松地升级到 Cary 620-FTIR 以提升运行的灵活性,满足不断变化的显微和成像的需求。● Resolutions Pro FTIR 软件

            红外化学成像系统 (IR-Imaging)

            红外化学成像系统 (IR-Imaging)

            • 品牌: 赛默飞世尔
            • 型号: Continuum XL
            • 产地:美国
            • 仪器简介:ContinuμmXL红外成像系统采用完全升级的模式,可以从单点分析的显微镜升级配置到目前领先的双排阵列数据采集显微红外成像系统和FPA焦平面阵列数据采集显微红外成像系统,它代表着目前红外显微镜的最高水平,提供最高的空间分辨率的快速样品分析与研究。主要特点:1.涵盖 Continuμm 显微镜所有专利技术及强大功能2.软件控制单光阑/双光阑切换,根据样品不同,提供红外成像或高空间分辨率、高信噪比的样品测量3.透射、反射、掠角反射及 ATR 测量,模式齐全4.中/近红外光谱范围,单点测量5种检测器可供选择5.红外成像系统独有高效的双排阵列检测器,两种像素测量尺寸选择6.预览模式下,自动样品台有三种移动速度,快速准确?#19994;?#27979;量微区7.高清晰高质量图像采集模式8.USB2.0 高速数据传输接口

            μAMOS 红外共焦激光失效分析仪

            μAMOS 红外共焦激光失效分析仪

            • 品牌: ?#26412;?#28392;松光子
            • 型号: μAMOS
            • 产地:日本
            • 红外-光致阻值改变(IR-OBIRCH)分析系统“μAMOS”是一款半导体失效分析仪,使用IR-OBIRCH方式来定位漏电流路径和LSI器件中的异常阻抗接触部件。在特定?#24503;?#19979;,使用lock-in单元来探测OBIRCH信号可大大提高信噪比。而且,通过使用大电流探针头,?#37096;?#20197;对大电流高电?#26500;?#20316;的器件进行分析。特性图像空间分辨率高背面观测(λ=1.3 μm)可观测高掺杂基底(Epi-sub)使用红外激光(λ=1.3 μm)意味着在半导体视场内不会产生OBIC信号,因此?#21830;?#27979;到缺陷引发的OBIRCH信号可以测量4象限电压/电流可升级到微光显微镜(选配)应用漏电流路径定位IDDQ失效分析金属缺陷探测金属线缺陷探测(空,硅节)触控(过孔)异常阻抗部件探测金属化过程监控*:IDDQ (Quiescent power supply current,静态供电电流):IDDQ为MOS管开关完成后流过的静态供电电流。?#38382;?#20135;品名称uAMOS-1000尺寸/重量主单元:1360 mm(W)×1410 mm(D)×2120 mm(H), Approx. 900 kg控制台:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kg选配桌:1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg线电压AC220 V (50 Hz/60 Hz)功?#33041;?3000W真空度约80 kPa或更大压缩空气0.5 MPa to 0.7 MPa可用器件晶片*前面切块后的芯片到300mm晶片背面200/300 mm晶片(其他尺寸晶片可通过增加选配来处理)*?#27827;?#36873;用探针的规格有关封装后IC前面芯片打开到表面的IC背面镜面抛光到硅基底的IC红外共焦激光显微镜扫描速度(秒/图)512×51212481024×102424816激光*1.3 μm激光二极管输出: 100 mW1.3 μm高功率激光器(选配)输出: 超过400 mW1.1 μm脉冲激光器(选配)输出: 200 mW (CW), 800 mW (pulse)*: For 1.3 μm laser, one of two laser can be integrated.光平台移动范围*X±20 mmY±20 mmZ75 mm*:由于探针或者样品平台的阻碍,该值肯会更小透镜放大一个转台可选透镜数达5个。透镜数值孔径WD (mm)视场μAMOS-10001×: A7649-010.032013×13标配2×: A80090.055346.5×6.5选配M-PLAN-NIR-5×: A11315-010.1437.52.6×2.6标配M-PLAN-NIR-20×: A11315-030.40200.65×0.65标配M-PLAN-NIR-50×: A11315-040.42170.26×0.26选配NIR 50×: A8756-0120.4218.30.26×0.26选配High NA50×: A8018120.76120.26×0.26选配M-PLAN-NIR-100×: A11315-050.50120.13×0.13标配NIR 100×: A8756-0220.5013.30.13×0.13选配M-PLAN-NIR-100×HR: A11315-0610.70100.13×0.13选配G-PLAN-APO-NIR-100×HR: A11315-08120.7060.13×0.13选配1:用1来标记的镜头有两种可选2:用2来标记的镜?#21453;?#29627;璃厚度补偿功能获取OBIRCH图像电压固定型电流固定型微电流放大器施加电压±10 mV to ±10 V±10 mV to ±10 V±10 mV to ±25 V最大电流100 mA100 mA100 μA探测率1 nA11 μV23 pA11:为输入放大器的最大?#21830;?#27979;脉冲信号2:计算值外形图(单位:mm)

            岛津 红外显微镜系统 AIM-8800

            岛津 红外显微镜系统 AIM-8800

            • 品牌: 日?#38236;?#27941;
            • 型号: AIM-8800
            • 产地:日本
            • 技术?#38382;?#13; 产品信息 作为新一代先进的红外显微镜,岛津 AIM-8800无论工作台的移动,光圈的设定还是聚焦都可以通过PC画面来控制,是高智能的傅立叶变换红外显微镜。可以采 用透射法、反射法和ATR法,应用领域十?#27490;?#27867;。不仅能实现高灵敏度的微量分析,而且操作简单方便,选配Mapping扫描软件后可以实现强大的微区扫描 的功能。 grayicon.gif 主机特点 * AIM VIEW先进控制系统 自动调节光圈 光圈由马达驱动。由鼠标操作可自由设定光圈的孔径面积和角度。打破 了以往的常规,不必再将样品置于可视画面的中心,无论什么位置只要设定了光圈,显微镜就会保持光圈大小和角度,自动移动样品至光量最强的位置进行测定。 自动X-Y样品工作台 能够?#19988;?0个样品位置,2个背景位置。能以最小1μm的步长移动工作台。 自动聚焦 聚 焦不再是麻烦的工作,只需要单击鼠标即可自动聚焦。 自动定中心 鼠标双击可视画面上的?#25105;?#19968;点即可将该点?#28006;?#30011;面中心 * 高灵敏度的不需维护的MCT检测器 超高灵敏度的MCT检测器保证信噪比在2600:1以上。配备高真空玻璃杜瓦瓶的液氮监视 器,不需要抽真空维护。 * 多种附件的应用 金刚石池、ATR反射物镜、32倍反射物镜以及Mapping扫描软件等多种附件的选择可以使应用范围进一步扩 展。

            PerkinElmer Spotlight 150i/200i 傅里叶变换红外显微镜系统

            PerkinElmer Spotlight 150i/200i 傅里叶变换红外显微镜系统

            • 品牌: 珀金埃尔默
            • 型号: Spotlight 150i/200i
            • 产地:美国
            • 在经常进行红外分析和红外显微镜分析的新材料、法医学、制药、生物材料、食品包装和学术研究以及其他多种学科领域里的各个实验室,正朝着对使用者专业化要求降低、多种仪器并用的方向发展。随着实验室功能的扩?#36141;图?#25104;化,使用者正面临着更大挑战:在提高测试效率的同?#27604;?#27979;试更多种类和尺寸规格的样品。这就是新的模式,您必须适应这种不断的发展变化并准备好迎接更具挑战性的任务。SpotlightTM设计的目的就在于帮助您应对这些或大或小的挑战。它操作非常简单,初学者?#26448;?#36731;松上手;清晰明了的软件可帮助您控制任何类型的样品从极小样品到大样品;合理精简的报告工具,让您公?#38236;?#25152;有人?#20493;?#33021;专注于自己的核心职责?#21644;?#21160;您的科学向前发展。SpotlightTM采用智能技术,使用简单;能智能化地搜索关注区域。可进行多点和多成分测量的批量分析和报告,自动ATR可帮助您快速获得准?#26041;?#26524;。最重要的是,它是一款带有全功能FT-IR的高性能红外显微镜,是同类解决方案中最灵活、用途最广的解决方案。Spotlight 150i和Spotlight200i系统:助您迎接挑战!

            Spotlight 300傅立叶变换红外图像系统(PerkinElmer)

            Spotlight 300傅立叶变换红外图像系统(PerkinElmer)

            • 品牌: 珀金埃尔默
            • 型号: Spotlight 300
            • 产地:美国
            • 仪器简介:全新的SpectrumSpotlight300傅立叶变换红外图象系统,这个令人兴奋的新系统能迅速地测试一个样品表面的特定区域的红外光谱,获得被称为红外图象的化学成?#20013;?#24687;,完整地补充其他图象技术,提高实验室的能力并且帮助他们迅速地解决问题,独特先进的检测器技术。使用标准快速傅立叶变换红外光谱仪,无须步进扫描。高灵敏度和宽波长范围。使用简便,兼容红外显微镜。

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